Visualizer for crystalline defects XS-1

晶體缺陷的視覺化工具

•通過Vision Psytec的原始光學理論和相移計算過程，可以實時顯示單晶晶片內部由晶體缺陷引起的內部變形。

•實現了通過可視光的顯微鏡進行觀察，在以前不可能觀察晶體位錯。

•具有晶體位錯探測能力，與同步輻射X射線形貌術相比，靈敏度最高，是晶體缺陷的評估方法。

•有可能在透明晶片內觀察到光學畸變，這幾乎是不可能用傳統偏光顯微鏡觀察到的。寬禁帶電晶體單晶，如碳化矽、GaN、金剛石和氮化鋁。藍寶石晶片也可用。

特徵

■ •非破壞性檢查和即时性

■ •不使用X射線或激光光源

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